Suggested Topics within your search.
Suggested Topics within your search.
mass spectrometry
2
мас-спектрометрiя
-
1
X-ray diffraction
1
defects
1
depth profile
1
gettering
1
iron
1
iонне розпилення
1
lifetime
1
multilayer structure
1
silicon
1
simulation
1
sputtering
1
багатошаровi структури
1
гетерування
1
дефекти
1
залiзо
1
кремнiй
1
моделювання
1
профiлi розподiлу
1
рентгенiвська дифрактометрiя
1
час життя
1
-
1by Gamov, D. V., Gudymenko, O. I., Kladko, V. P., Litovchenko, V. G., Melnik, V. P., Oberemok, O. S., Popov, V. G., Polishchuk, Yu. O., Romaniuk, B. M., Chernenko, V. V., Nasekа, V. M.Get full text
Published 2018
Article -
2